1樓：匿名使用者
vd10+r3+c4構成乙個檢波器，這個檢波器的電容c4只有1nf，放電時間常數t1小，放電快，兩端電壓最大值回為u1。c77是個大答電容，放電慢，兩端電壓由穩壓管vd11決定，是5.1v。
電壓關係u1=5.1+0.7v。
在乙個交流週期內，假設認為c77、也即vd11兩端電壓先保持不變。當交流由正半周過零向負半周去的時候，c4兩端電壓快速下降，這樣以vd11上端為參考，r54左端電壓比vd11下端高0.7v時，三極體vt1會導通，驅動光耦d10發光，此時右邊vero那地方輸出為高。
直到把c77電壓放光vt1和光耦才截止，光耦熄滅，右側輸出為低電平。
所以根據交流電週期調整電阻電容的值，可以在過零點附近產生乙個週期可調的高電平脈衝。這個電路的過零點並不準確，並且是否能正常工作還與交流電週期相關，不好。很早就有專用的過零觸發光耦，比如moc3051、moc3081之類的，簡單可靠。
2樓：匿名使用者
其實不用那麼複雜，兩個光耦就可以了。
過零檢測電路的原理是什麼啊，為什麼要檢測它，檢測到了拿來做什麼用啊
3樓：春素小皙化妝品
工作原理：
來d5、d6電壓取自自
變壓器次級a、b兩點(~14v)，經過d5、d6全波整流，形成脈動直流波形，電阻分壓後，再經過電容濾波，濾去高頻成分，形成c點電壓波形；當c點電壓大於0.7v時，三極體q2導通，在三極體集電極形成低電平；
當c點電壓低於0.7v時，三極體截止，三極體集電極通過上拉電阻r4，形成高電平。這樣通過三極體的反覆導通、截止，在晶元過零檢測埠d點形成100hz脈衝波形，晶元通過判斷，檢測電壓的零點。
可作開關電路或者頻率檢測。漏電開關的漏電檢測是檢測零序電流。
擴充套件資料
過零比較器被用於檢測乙個輸入值是否是零。原理是利用比較器對兩個輸入電壓進行比較。兩個輸入電壓乙個是參考電壓vr，乙個是待測電壓vu。
一般vr從正相輸入端接入，vu從反相輸入端接入。根據比較輸入電壓的結果輸出正向或反向飽和電壓。當參考電壓已知時就可以得出待測電壓的測量結果，參考電壓為零時即為過零比較器。
4樓：安全護航
過零檢測電路的原來理是
它只說源明了對可控矽的作用，其實，它的作用很多，凡是需要從零點開始起動的、從零點判斷相位的等等，都有可能用到過零檢測。
5樓：黑豹
比較器參考電壓端子接地，訊號輸入是交流電壓，比較器輸出就是過零電壓訊號，還有過零電流檢測。
如用來精確控制可控矽等電子開關的動作時間，減少開關瞬間的電磁干擾，也延長器件壽命。
6樓：匿名使用者
過零檢測 我所見copy的 就是bai 單相電裡 用來調速 調功率的du
原理就是 兩根線的電壓經zhi過零點時 輸出乙個觸發dao訊號在半個週期裡或者是 乙個週期裡 通過延時輸出相應所佔週期比例的電壓
這樣每個週期裡電壓的有效值大小就會變化
電壓變了 加在負載上的功率就會變化
（這種功率的變化是均勻的 ）
7樓：匿名使用者
一般有可控復矽的地方，制才會用到，過bai零檢測有個很重要的作du用，就是同步功能，比zhi如燈具，你有dao100個，有這樣閃，那樣閃的，通過過零檢測，可以讓他們同時亮滅，閃亮，如果沒有這個檢測功能，到時閃的亂亂的，很難看的。這個在酒店裡邊有用。
另外就是可控矽，在過零時，電路中是沒有電的，或者電流很小，在這時，開和關可控矽，對他損傷很小，如果在正常情況下，開關可控矽，會造成可控矽很容易壞。原創，請採納
關於過零檢測電路求教
8樓：匿名使用者
您的這個方案，有些問題
1、先說方案，大部分過零檢測就像您說的用橋整流後的，這專樣乙個週期會有兩次過零，屬那麼就會給可控矽兩次觸發脈衝，而您如果是用觸發脈衝的話只能給一次，這樣電機調速的穩定性就差了；
如圖：2、您用示波器探頭接觸到光耦初級就會出現波動或好了的什麼情況，就是您的電路造成的，實際上您用的l1、l2兩個電感可能是差模電感和共模電感，但是如果是這樣，您的電路確又缺少x電容和y電容，所以您應該加上x、y電容給差模電感和共模電感形成完整的通路，否則如果有差模和共模訊號的時候就出現您說的造成過零不穩定，從而調速有問題的情況發生；
3、另外，您的電機接的位置有問題，應該接在l1之前，否則電機啟動和不穩定肯定會對採集和後面電路造成影響；
4、光耦，您的r19用100k？怎麼可能讓光耦飽和，建議1k，否則zero的高低電平會讓微控制器檢測有問題，當然您也可以再加乙隻三極體，也不知道您用的是電平觸發還是沿觸發，這種調速最好用沿觸發。
僅供參考，希望能幫到您。
9樓：匿名使用者
我以來前做過，首先說橋式整流的作用源，如果bai不加，那麼你需要兩套電路分別du用於檢測正半周zhi和負半周。dao
另外還有個問題，二極體有個導通電壓，就是說過零後並不是馬上導通，加之光耦中發光二極體亮度大於某個值，才有輸出，所以按你的方法過零肯定有一定延遲。
所以建議檢測端增加電壓比較器，經**管推動光耦，當然這就需要將220v分壓整流濾波穩壓，為你的比較電路提供電源。
另外光耦的輸出建議增加乙個三極體提高驅動能力，同時縮短反應時間。
要想電路工作更穩定，增加元件是必須的。
10樓：青川小舟
1、用橋式整流後每週期送出兩個過零訊號，不用橋式整流每週期送出乙個過零訊號；
2、多加乙個管子確實能提高抗干擾能力；
3、改進發光管相關部分可以改善零點檢測的精度。
11樓：微塵埃
你這個電路中，
一，，如果沒有地方用三百伏的，就把兩個濾波電容去除，專d6也可以去除，光偶，d6，r7，與屬交流部分聯絡切斷。。
二，，r7的上端改接到橋式整流輸出的正端，(或d6正向串在r7上端，這樣就可以保留兩個300伏濾波電容了），光偶的發光二極體的陰極(817好像是第二腳)改接到橋式整流輸出的負端。
三，，r19改用1k到10k之間的電阻，
過零檢測電路 是什麼
12樓：匿名使用者
是交流電路中當波形從正半周向負半周轉換時，經過零位時，系統作出的檢測。
13樓：匿名使用者
實質就是乙個來比較器，運放源+正設定接地，運放負端輸入待檢測訊號，如果輸入訊號的瞬時值大於零，那麼運放輸出一數值，如果輸入訊號的瞬時值小於零，則運放輸出另外一數值。這樣運放的輸出就是乙個於輸入訊號過零點時刻同步的方波，實現了過零檢測，也實現了同步。這麼說對麼？
什麼是過零檢測電路？
14樓：匿名使用者
簡單的說就是負載短路了，電壓下降了，降到檢測電路保護的值電路就工作了嗎，就起到保護作用了嗎。
15樓：匿名使用者
指的是當交流系統中，當波形從正半周向負半周轉換時，經過零位時，系統作出的檢測。可作開關電路或者頻率檢測。漏電開關的漏電檢測是檢測靈序電流。
16樓：匿名使用者
由漏電保護開關內部的元器件共同組成的電路，就是過零檢測電路。
17樓：匿名使用者
就是漏電保護器裡檢測負載電流是否經過零線形成迴路的檢測電路。它的檢測決定漏電保護器是否動作（跳閘）。
哪位大神幫我解釋一下這圖的工作原理？這樣整流加光耦的過零檢測電路有什麼好處？ 5
18樓：無畏無知者
1）光耦輸入端畫錯了，應該1、2腳連線線互換，就是整流輸出正極接專1、負極接2；
2）橋式整屬流部分，就是將負半周波形翻過來，再與正半週期波形疊加，具體參考橋式整流電路；
3）過零點檢測，就是輸入電壓在零值附近時，光電管不會導通，光耦輸出為低電平；當輸入電壓公升高到過了某一定值後，光電管導通，光耦輸出為高電平；
4）此電路的特點是，檢測電路與受測訊號實現電氣隔離；
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