1樓：勤奮的花大喵
掃描電子顯微鏡 sem(scanning electron microscope) 工作原理：
2023年發明的較現代的細胞生物學研究工具，主要是利用二次電子訊號成像來觀察樣品的表面形態，即用極狹窄的電子束去掃描樣品，通過電子束與樣品的相互作用產生各種效應，其中主要是樣品的二次電子發射。二次電子能夠產生樣品表面放大的形貌像，這個像是在樣品被掃描時按時序建立起來的，即使用逐點成像的方法獲得放大像。
透射電鏡tem (transmission electron microscope)工作原理：
是以電子束透過樣品經過聚焦與放大後所產生的物像， 投射到熒光屏上或照相底片上進行觀察。
一、掃描電子顯微鏡 sem(scanning electron microscope)的製造依據
掃描電子顯微鏡的製造是依據電子與物質的相互作用。當一束高能的人射電子轟擊物質表面時，被激發的區域將產生二次電子、俄歇電子、特徵x射線和連續譜x射線、背散射電子、透射電子，以及在可見、紫外、紅外光區域產生的電磁輻射。
同時，也可產生電子-空穴對、晶格振動 (聲子)、電子振盪 (等離子體)。原則上講，利用電子和物質的相互作用，可以獲取被測樣品本身的各種物理、化學性質的資訊，如形貌、組成、晶體結構、電子結構和內部電場或磁場等等。
掃描電子顯微鏡正是根據上述不同資訊產生的機理，採用不同的資訊檢測器，使選擇檢測得以實現。如對二次電子、背散射電子的採集，可得到有關物質微觀形貌的資訊;對x射線的採集，可得到物質化學成分的資訊。正因如此，根據不同需求，可製造出功能配置不同的掃描電子顯微鏡。
二、透射電鏡tem (transmission electron microscope)的製造依據
透射電鏡的解析度為0.1～0.2nm，放大倍數為幾萬～幾十萬倍。由於電子易散射或被物體吸收，故穿透力低，必須製備更薄的超薄切片（通常為50～100nm）。
其製備過程與石蠟切片相似，但要求極嚴格。要在機體死亡後的數分鐘釣取材，組織塊要小(1立方毫米以內），常用戊二醛和餓酸進行雙重固定樹脂包埋,用特製的超薄切片機（ultramicrotome）切成超薄切片，再經醋酸鈾和檸檬酸鉛等進行電子染色。
電子束投射到樣品時，可隨組織構成成分的密度不同而發生相應的電子發射，如電子束投射到質量大的結構時，電子被散射的多，因此投射到熒光屏上的電子少而呈暗像，電子**上則呈黑色。稱電子密度高（electron dense）。反之，則稱為電子密度低（electron lucent）。
2樓：清流異域
sem，全稱為掃描電子顯微鏡，又稱掃描電鏡，英文名scanning electronic microscopy. tem，全稱為透射電子顯微鏡，又稱透射電鏡，英文名transmission electron microscope.
區別：sem的樣品中被激發出來的二次電子和背散射電子被收集而成像. tem可以表徵樣品的質厚襯度，也可以表徵樣品的內部晶格結構。tem的解析度比sem要高一些。
sem樣品要求不算嚴苛，而tem樣品觀察的部分必須減薄到100nm厚度以下，一般做成直徑3mm的片，然後去做離子減薄，或雙噴（或者有厚度為20~40μm或者更少的薄區要求）。
tem可以標定晶格常數，從而確定物相結構；sem主要可以標定某一處的元素含量，但無法準確測定結構。
3樓：夏雨後的小彩虹
sem是掃描電鏡，所加電壓比較低，只是掃描用的，相當於高倍的顯微鏡tem是透射電鏡，所加電壓高，可以打透樣品，觀察內部結構stem是掃描透射，是掃描電鏡裡面的一個功能，可以說是山寨版的temstm是掃描隧道顯微鏡，具體功能不太清楚了。
tem和sem有什麼區別？
4樓：猴滓形
透射電鏡（tem）的放大倍數要比掃描電鏡（sem）的高,當然兩則的成像原理也是不同的，如果需要觀察奈米顆粒在聚合物中的分散情況，你就必須要用tem來觀察了，sem通常看材料的缺口斷面，當然還有許多其他應用。
sem是電子束激發出表面次級電子,而tem是穿透試樣,而電子束穿透能力很弱,所以tem樣品要求很薄,只有幾十nm, tem一般放大能達幾百w倍,而sem只有幾萬倍.
掃描電鏡通常用在一些斷口觀察分析,外加一個能譜儀,可以進行能譜掃描.其放大倍數相對較低,操作方便,樣品製作簡單,對於高聚物,須進行噴金處理 tem則可以**樣品的內部結構,粒子的分散等.其放大倍數高於sem,但也不是絕對,現在有些掃描電鏡的放大倍數也可以很高.
其操作較複雜,樣品製作也較為煩瑣
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