SEM和電子探針使用特徵的問題

2025-01-03 11:20:30 字數 2941 閱讀 7949

1樓:我不再來

sem說俗了 就是用高速的電子打擊標本 捕獲打回來的電子 然後電腦分析 得到的圖象就是物體表面的** 和普通黑白**沒區別 只不過是很小很小的物體 在奈米級別上的迷你**~

電子探針就不一樣了 全名為電子探針x射線顯微分析儀 又名微區x射線譜分析儀 聽著聽深奧 實際上就是把高速的電子打在物體上 這點和sem一樣 但是它捕獲的不是電子 它要的是物體受到電子攻擊產生的x線``(如果你大學物理學的好沒掛科的話你應該記得乙個叫做特徵x線 它要的就是這個玩意) 因為這個x線含有標本的化學成分資訊``所以它長用來分析物體裡有什麼 這樣我們就知道標本里面有多少氫多少氧等等`

總結就是:都把高速的電子打到了標本上 sem捕獲了**回來的電子 從而知道了物體表面長什麼樣子 電子探針捕獲了物體激發出來的x光 從而知道了物體裡面有什麼成分。

2樓:英曲巫馬杏兒

sem說俗了。

就是用高速的電子打擊標本。

捕獲打回來的電子。

然後電腦分析。

得到的圖象就是物體表面的**。

和普通黑白**沒區別。

只不過是很小很小的物體。

在奈米級別上的迷你**~

電子探針就不一樣了。

全名為電子探針x射線顯微分析儀。

電子探針的作用?

3樓:愛死了昨天權

電來子探針是一種分析儀自器,可以用。

來分析薄片中礦物微區的化學組成。該儀器將高度聚焦的電子束聚焦在礦物上,激發組成礦物元素的特徵x射線。用分光器或檢波器測定螢光x射線的波長,並將其強度與標準樣品對比,或根據不同強度校正直接計數出組分含量。

電子探針可以對試樣中微小區域(微公尺級)的化學組成進行定性或定量分析。可以進行點、線掃瞄(得到層成分分佈資訊)、面掃瞄分析(得到成分面分佈影象)。還能全自動進行批量(預置9999測試點)定量分析。

由於電子探針技術具有操作迅速簡便(相對複雜的化學分析方法而言)、實驗結果的解釋直截了當、分析過程不損壞樣品、測量準確度較高等優點,故在冶金、地質、電子材料、生物、醫學、考古以及其它領域中得到日益廣泛地應用,是礦物測試分析和樣品成分分析的重要工具。

4樓:網友

用在測試治具上,用來測試電路板電路是否正確!

掃瞄電子顯微鏡(sem)的電磁輻射危害

5樓:孓亥釨

這個嘛。相當於。電焊的危害。想這樣的話。做好防護措施。就可以了。主要的是。對眼睛有些傷害吧。

sem工程師工作是怎樣的阿?平時就是面對著電腦嘛?

6樓:匿名使用者

樓上說的也是semer的一些主要日常工作,其次就是製作各種報表了,**週報月報一般都得做,不過競價後臺一般都是直接提供的,自己稍微整理就行,然後發現問題,晚上賬戶之類了,陵滑御還有就是協助設計著陸頁等等讓衝,跟客服也得有很多聯絡,畢竟這個是引流,客服那尺巖邊還得做好溝通。現在做競價待遇什麼的還蠻不錯的。

7樓:萌哥

是sem優化師嗎?如果是的話,那麼基本上就是每天要管理sem的賬戶,念頌拓詞篩詞、撰寫創意、管理詞庫上下架等等,再多一些就是品專的設計還有迅野其他sem產品的管理了,反正都得用到畝高喊電腦。

電子掃瞄顯微鏡(sem)的工作原理???

8樓:匿名使用者

補充匿名 8-12 13:43

優點:與光學顯微鏡相比,電子顯微鏡為電子束為介質,由於電子束波長遠較可見光小,故電子顯微鏡解像度遠比光學顯微鏡高。光學顯微鏡放大倍率最高只有約1500倍,掃瞄式顯微鏡可放大到10000倍以上。

掃瞄電子顯微鏡有一重要特色是具有超大的景深(depth of field),約為光學顯微鏡的300倍,使得掃瞄式顯微鏡比光學顯微鏡更適合觀察表面起伏程度較大的試片。

可進行多種功能的分析。與 x 射線譜儀配接,可在觀察形貌的同時 進行微區成分分析;配有光學顯微鏡和單色儀等附件時,可觀察陰極螢光影象和進行陰極螢光光譜分析等。

可使用加熱,冷卻和拉伸等樣品臺進行動態試驗,觀察在不同環境 條件下的相變及形態變化等。

缺點:大部分電子掃瞄顯微鏡的抗汙染能力低,必須提供真空系統和電源穩壓系統。

基本功能和用途:

二次電子象,背散射電子象,圖象處理及分析,能做各種固體材料樣品表面形貌及組織結構的分析。

9樓:真龍化學

sem通過電子來使樣本放大50萬倍,相當於將1公釐放大到500公尺。同時,sem也可以分析樣品的組成元素。sem產生電子束撞擊樣品原子的電子層,產生x射線,釋放不同程度的能力,從而判斷原子的種類。

這項技術也被稱為x射線微探技術,對於分析**痕跡非常有用。

為什麼電子探針要使用拋光樣品?

10樓:網友

簡單來說 就是電子束從樣品裡面岀射時會被樣品吸收一部分能量,對應一定的吸收距離,樣品表面平整的話就有統一的吸收距離,則可統一修正,簡單的如zaf修正。如果樣品表面不平整,則打在不同地方電子束的吸收距離不同,那麼原來統一的修正顯然不再適合。

11樓:沙場點小將

上面那位解釋的好像不對吧。

sem和tem中的電子探針的分析精度相同嗎?如果不同,請說出為什麼

12樓:每天冰淇淋

sem說俗了 就是用高速的電子打擊標本 捕獲打回來的電子物襲 然後電腦分析 得到的圖象就是物體表御螞首面的** 和普通黑白**沒區別 只不過是很小很小的物體 在納鎮數公尺級別上的迷你**~ 電子探針就不一樣了 全名為電子探針x射線顯微分析儀。

sem如何利用二次電子成像

13樓:網友

這兩個概念怎麼能聯絡到一起的呢??

14樓:網友

我還以為是se引擎營銷呢。

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